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XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪


X射线吸收精细结构谱仪是同步辐射试验的补充和延伸,是不依赖于同步辐射实验室级别XAFS与XES测量装置。浩元公司推出实验室用XAFS2300型X射线吸收精细结构谱仪, 集成高通量连续谱X射线源、 高反射效率弯晶单色器、高分辨率SDD探测器三大核心组件,以及高分辨罗兰圆转角控制技术,在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构精确测量(XAFS),完成对元素的配位数、键长、化学价态和配位构型等分析。此外,该设备还能够进行X射线发射谱测试(XES),其本质上是超高能量分辨率的X射线荧光光谱,实现元素自旋态与类似中子临近配位元素物种精确测定。

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 XAFS模式与同步辐射的数据质量对比



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Cu foil晶体结构


性能、技术参数:

X射线功率达到3KW,光通量大于2×106 photons/sec. (7-20keV), 具备透射模式与荧光模式X射线吸收精细结构谱(XAFS)及X射线发射谱(XES)测量功能。

能量范围:4.5-20keV,能量分辨率0.5-1.5eV;重复性:<30meV 能量尺度漂移,单色仪无需重复校准;采用高分辨罗兰环结构与球形弯曲X射线单色器;高分辨率SDD检测器。能够完成1%含量实际样品测量。



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XAFS荧光模式实现1%低含量单原子催化剂体系测试


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1% Cu CuN4-C单原子催化剂

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XAFS在碳中和高效CO2转化能源催化材料结构精准物质结构分析应用


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电解水制氢OER 氢燃料电池ORR电催化原位结构与价态动态演变探测


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具有Fe-S Fe-O混合配位FeN2S2@介孔C及其反应中间态精准结构探测解析可视化与不同配位层路径贡献


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1% Fe FeN4-C单原子催化剂一整套包括 E R空间解析 R k空间拟合以及相应三维小波变换 3D WT-XAFS

(d-g) Fe K edge wavelet transform of Fe foil,Fe2O3, Fe Pc, and Fe SAC (FeN4)



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COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位结构演变精准探测解析与可视化


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COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化



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COF前驱体策略构筑同核双单原子Fe2N6合成过程加热原位价态与结构演变精准探测解析与可视化


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完整一整套同核双单原子Fe2N6结构解析与拟合



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高分辨XANES对特定混合配位构型确定


应用领域:

在材料科学和工程领域 XAFS方法已成为研究材料的局域原子和电子结构的一种重要表征手段。广泛应用于纳米材料、半导体材料、化学催化材料、生物材料、矿种分析、军工材料等研究,是凝聚态物理等的前沿尖端研究领域未来都是必不可少。

催化:多相催化、单原子催化等:催化剂原子和载体的关系;能源:电池材料、燃料电池催化剂、光合作用、碳捕获、制氢;

材料:掺杂、离子迁移、价态、结构晶型;

环境:有毒元素价态及其在自然界的循环;放射性核素的化学态;

生物:金属蛋白、金属元素的植物吸收/循环。



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